أجريس - النظام الدولي للعلوم الزراعية والتكنولوجيا

Relative tolerance of wheat cultivars to leaf rust and components responsible for yield losses

1994

Meenakumar, K.V.S. | Singh, D.V. | Srivastava, K.D. (Indian Agricultural Research Institute, New Delhi (India). Division of Mycology and Plant Pathology)


المعلومات البيبليوغرافية
المجلد 47 الإصدار 1 الرقم التسلسلي المعياري الدولي (ردمد) 0367-973X
ترقيم الصفحات
pp. 48-55
مواضيع أخرى
Resistance aux maladies; Variete; Perte de recolte; Perdidas de la cosecha
اللغة
إنجليزي
ملاحظة
Summary (En)
4 tables; 21 ref.
النوع
Summary

1995-08-15
AGRIS AP
تصفح الباحث العلمي من جوجل
إذا لاحظت أي معلومات غير صحيحة تتعلق بهذا السجل ، يرجى الاتصال بنا [email protected]