أجريس - النظام الدولي للعلوم الزراعية والتكنولوجيا

Molecular mapping of stem and leaf rust resistance in wheat

Kahn, R. | Bariana, H. | Dholakia, B. | Naik, S. | Lagu, M. | Rathjen, A. | Bhavani, S. | Gupta, V.


المعلومات البيبليوغرافية
الناشر
Springer
اللغة
إنجليزي
الرقم التسلسلي المعياري الدولي (ردمد)
0040-5752, 1432-2242
النوع
Journal Article; Journal Part
المصدر
https://doi.org/10.1007/s00122-005-0005-4

2024-10-18
2026-02-03
Dublin Core
مزود البيانات
تصفح الباحث العلمي من جوجل
إذا لاحظت أي معلومات غير صحيحة تتعلق بهذا السجل ، يرجى الاتصال بنا [email protected]