Determining alloy concentration by analyzing dynamic diffraction at strained semiconductor interfaces
2024
Otto Frederik | Niermann Laura | Niermann Tore | Lehmann Michael
المعلومات البيبليوغرافية
BIO Web of Conferences
المجلد
129
ترقيم الصفحات
07017
الرقم التسلسلي المعياري الدولي (ردمد)
2117-4458
الناشر
EDP Sciences
مواضيع أخرى
Dynamic-diffraction; 4d-stem; Composition-determination; Relaxation; Strain
اللغة
إنجليزي
2024-12-11
2024-12-13
DOAJ
مزود البيانات
تم تزويد هذا السجل من قبل Directory of Open Access Journals
إذا لاحظت أي معلومات غير صحيحة تتعلق بهذا السجل ، يرجى الاتصال بنا [email protected]