FAO AGRIS - Sistema Internacional para la Ciencia y Tecnología Agrícola

Yield mapping using method of measuring yield every mesh, 1: Instrument of yield measuring every mesh

2009

Tateishi, K.(National Agricultural Research Center, Tsukuba, Ibaraki (Japan)) | Yukumoto, O. | Sasaki, Y. | Kobayashi, K. | Shigeta, K. | Saitoh, H. | Wen, L. | Seki, M.


Información bibliográfica
Journal of the Japanese Society of Agricultural Machinery (Japan)
Volumen 71 Edición 4 ISSN 0285-2543
Paginación
pp. 83-89
Otras materias
Agriculture de precision; Medicion; Agricultura de precision
Idioma
Japonés
Nota
Summaries (En, Ja)
2 tab. 9 fig.
Tipo
Summary

2009-04-15
AGRIS AP
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