ФАО АГРИС — международная информационная система по сельскохозяйственным наукам и технологиям

Temperature during seed filling and soybean seed germination and vigour

1997

Spears, J.F. | Tekrony, D.M. | Egli, D.B. (North Carolina State University, Raleigh (USA). Crop Science Department)


Библиографическая информация
Том 25 Выпуск 2 ISSN 0251-0952
Издатель
International Seed Testing Association
Нумерация страниц
p. 233-244
Другие темы
Conductivite electrique; Longevite des semences; Faculte germinative; Qualite; Conductividad electrica
Язык
Английский
Примечание
Summary (En)
5 tables, 1 graph, 28 ref.
Тип
Summary; Non-Conventional
Источник
Proceedings of the International Seed Testing Association, International Seed Testing Association's Secretariat, Reckenholz (Switzerland).- Reckenholz (Switzerland): International Seed Testing Association, 1997

1998-08-15
AGRIS AP
Посмотрите в Google Scholar
If you notice any incorrect information relating to this record, please contact us at [email protected] [email protected]