ФАО АГРИС — международная информационная система по сельскохозяйственным наукам и технологиям

Charge gradient microscopy

2014

Hong, Seungbum | Tong, Sheng | Park, Woon Ik | Hiranaga, Yoshiomi | Cho, Yasuo | Roelofs, Andreas


Библиографическая информация
Том 111 Выпуск 18 Нумерация страниц 6566-6569 - 6569 ISSN 0027-8424
Издатель
Elsevier Ltd
Другие темы
Piezoresponse; Charge scraping; Atomic force microscopy; Screen charge
Язык
Английский
Лицензия
//data.crossref.org/schemas/AccessIndicators.xsd:license_ref>http://purl.org/eprint/accessRights/OpenAccess | //data.crossref.org/schemas/AccessIndicators.xsd:program>//data.crossref.org/schemas/AccessIndicators.xsd:license_ref> | //data.crossref.org/schemas/AccessIndicators.xsd:program>
Тип
Journal Article; Text

2024-02-29
MODS
Посмотрите в Google Scholar
If you notice any incorrect information relating to this record, please contact us at [email protected] [email protected]