OCORRÊNCIA E CARACTERIZAÇÃO DO AMIDO RESISTENTE EM AMIDOS DE MILHO E DE BANANA

葡萄牙语. No presente trabalho foi estudada a ocorrência de Amido Resistente (AR) em amidos de milho e de banana (naturalmente resistente) e investigado o efeito das variáveis: umidade de condicionamento, tempo e temperatura de armazenamento dos géis, na formação do AR em amido normal de milho; além das características físico-químicas e a estrutura fina do AR de milho e de banana. Foi observado que o teor de AR em amidos de milho e banana (2,5% e 49,61%, respectivamente) parece não estar relacionada com a composição química do grânulo. O amido de banana apresentou grânulos com certo poliformismo, padrão de raio-x tipo B, além de uma fração linear de DP 34 resistente à <FONT FACE="Symbol">b</font>-amilólise. A estrutura cristalina que mantém o grânulo do amido de banana coeso, por si só, não explicou o alto teor de AR encontrado. O amido de milho normal apresentou formas poliédricas e padrão difração em raio-x tipo A. Não foi observada a fração com DP 34 resistente à <FONT FACE="Symbol">b</font>-amilólise, apesar da sua maior coesividade quando comparado ao amido de banana. O tratamento hidrotérmico aplicado no amido normal de milho quase triplicou o teor de AR (7,15%) devido à formação de estruturas cristalinas coesas. O AR de milho (7,15% de AR), constituído por fragmentos porosos, apresentou padrão de difração tipo C. A não significância do tempo de armazenamento dos géis na produção do AR e a fração linear com DP 34 resistente à <FONT FACE="Symbol">b</font>-amilólise presente nos cromatogramas, sugerem a participação da amilose na formação desta estrutura resistente.

英语. In this work the occurrence of resistant starch (RS) in normal corn and banana (naturally resistant) starches was studied and also the effects of conditioning moisture, storage temperature and time on the formation of RS in normal corn starch. The physico-chemical characteristics of the RS from corn and banana were also studied, including the molecular structure. The proximate composition data showed that the percentage of RS is not related to the chemical composition of the granule. Banana starch showed granules with a certain polyformism, and a B x-ray diffraction pattern. The dextrins from this starch showed a linear fraction with DP 34 resistant to sequential action of <FONT FACE="Symbol">b</font>-amylase and/or pulullonase. The pasting characteristics indicated that the high RS content observed in this starch, could not be explained by the physical structure which maintains the granule. The normal corn starch showed polyhedral shapes. Exclusion gel chromatography of the residues obtained after <FONT FACE="Symbol">b</font>- amylase and/or pulullonase hydrolysis, did not show a fraction with DP 34, although the pasting properties indicated a higher granule cohesivity than that of the banana starch. The hydrothermal treatment almost triplicated the RS content (7.15%) of the corn starch, because of the formation of more cohesive structures inside the granule. The retrograded corn starch, with 7.15% RS, was constituted of porous fragments and a C type diffraction pattern. On the other hand, the non significance of storage time on the formation of RS in conjunction with the absence of a fraction with DP 34, suggested the participation of amylose in this resistant structure.