أجريس - النظام الدولي للعلوم الزراعية والتكنولوجيا

Ontogenetic-based sequential path analysis of grain yield and its related traits in several winter wheat cultivars

Mądry, Wiesław | Studnicki, Marcin | Rozbicki, Jan | Golba, Jan | Gozdowski, Dariusz | Pecio, Alicja | Oleksy, Andrzej


المعلومات البيبليوغرافية
المجلد 65 الإصدار 7 ترقيم الصفحات 605 - 618 الرقم التسلسلي المعياري الدولي (ردمد) 1651-1913
الناشر
Taylor & Francis
مواضيع أخرى
Grain yield; Environmental variation; Morpho-physiological traits; Phenological traits; Filling period; Postregistration trials; Growth regulators
اللغة
إنجليزي
النوع
Journal Article; Text

2024-02-28
2026-02-03
MODS
مزود البيانات
تصفح الباحث العلمي من جوجل
إذا لاحظت أي معلومات غير صحيحة تتعلق بهذا السجل ، يرجى الاتصال بنا [email protected]