FAO AGRIS - Sistema Internacional para la Ciencia y Tecnología Agrícola

Ontogenetic-based sequential path analysis of grain yield and its related traits in several winter wheat cultivars

Mądry, Wiesław | Studnicki, Marcin | Rozbicki, Jan | Golba, Jan | Gozdowski, Dariusz | Pecio, Alicja | Oleksy, Andrzej


Información bibliográfica
Volumen 65 Edición 7 Paginación 605 - 618 ISSN 1651-1913
Editorial
Taylor & Francis
Otras materias
Grain yield; Environmental variation; Morpho-physiological traits; Phenological traits; Filling period; Postregistration trials; Growth regulators
Idioma
Inglés
Tipo
Journal Article; Text

2024-02-28
2026-02-03
MODS
Proveedor de Datos
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