FAO AGRIS - Sistema Internacional para la Ciencia y Tecnología Agrícola

The Effect of Surface Soil Thickness on Corn Yields: II. As Determined by an Experiment Using Normal Surface Soil and Artificially-Exposed Subsoil

1961

Engelstad, O. P. | Shrader, W. D.


Información bibliográfica
Volumen 25 Edición 6 Paginación 497 - 499 ISSN 0361-5995
Editorial
Soil Science Society of America
Otras materias
Fertilizer rates; Corn; Soil depth
Idioma
Inglés
Nota
Epub
Tipo
Journal Article; Text

2024-02-28
MODS
Proveedor de Datos
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