FAO AGRIS - Système international des sciences et technologies agricoles

The Effect of Surface Soil Thickness on Corn Yields: II. As Determined by an Experiment Using Normal Surface Soil and Artificially-Exposed Subsoil

1961

Engelstad, O. P. | Shrader, W. D.


Informations bibliographiques
Volume 25 Numéro 6 Pagination 497 - 499 ISSN 0361-5995
Editeur
Soil Science Society of America
D'autres materias
Fertilizer rates; Corn; Soil depth
Langue
anglais
Note
Epub
Type
Journal Article; Text

2024-02-28
MODS
Fournisseur de données
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