FAO AGRIS - Sistema Internacional para la Ciencia y Tecnología Agrícola

Effects of silicon on yield contributing parameters and its accumulation in abaxial epidermis of sugarcane leaf blades using energy dispersive x-ray analysis

2012

Bokhtiar, S. M. | Huang, Hai-Rong | Li, Yang-Rui | Dalvi, V. A.


Información bibliográfica
Volumen 35 Edición 8 Paginación 1255 - 1275 ISSN 1532-4087
Editorial
Taylor & Francis Group
Otras materias
Dry matter accumulation; Energy dispersive x-ray analysis; Calcium silicate; Energy-dispersive x-ray analysis; Exchangeable potassium; Scanning electron microscope; Leaf nutrient; Gas exchange characteristics; Scanning electron microscopy
Idioma
Inglés
Nota
2019-12-05
Tipo
Journal Article; Text

2024-02-28
MODS
Proveedor de Datos
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