ФАО АГРИС — международная информационная система по сельскохозяйственным наукам и технологиям

Effects of silicon on yield contributing parameters and its accumulation in abaxial epidermis of sugarcane leaf blades using energy dispersive x-ray analysis

2012

Bokhtiar, S. M. | Huang, Hai-Rong | Li, Yang-Rui | Dalvi, V. A.


Библиографическая информация
Том 35 Выпуск 8 Нумерация страниц 1255 - 1275 ISSN 1532-4087
Издатель
Taylor & Francis Group
Другие темы
Dry matter accumulation; Energy dispersive x-ray analysis; Calcium silicate; Energy-dispersive x-ray analysis; Exchangeable potassium; Scanning electron microscope; Leaf nutrient; Gas exchange characteristics; Scanning electron microscopy
Язык
Английский
Примечание
2019-12-05
Тип
Journal Article; Text

2024-02-28
MODS
Посмотрите в Google Scholar
If you notice any incorrect information relating to this record, please contact us at [email protected] [email protected]