FAO AGRIS - Sistema Internacional para la Ciencia y Tecnología Agrícola

Unravelling Yield and Yield-Related Traits in Soybean Using GGE Biplot and Path Analysis

Tonny Obua | Julius Pyton Sserumaga | Phinehas Tukamuhabwa | Mercy Namara | Bruno Awio | Johnson Mugarra | Geoffrey Tusiime | Godfree Chigeza


Información bibliográfica
Volumen 14 Edición 12 Paginación 2826 ISSN 2073-4395
Editorial
MDPI AG
Otras materias
Gei; Biplot; Gge biplots
Idioma
Inglés

2025-01-28
2026-02-03
DOAJ
Proveedor de Datos
Buscar en Google Scholar
Si observa algún dato incorrecto en este registro bibliográfico, póngase en contacto con nosotros en [email protected]