О ФАО Новости Мультимедиа Основные темы Статистика Члены Публикации

ФАО АГРИС — международная информационная система по сельскохозяйственным наукам и технологиям

Продвинутый поиск

Estimation of leaf area index, dry matter production, and grain yield by spectral reflectance in soybean

1996

Lee, Y.S. | Yun, S.H. | Park, M.E. (Rural Development Administration, Suwon (Korea Republic). National Institute of Agricultural Science and Technology) | Choi, D.H. (Rural Development Administration, Suwon (Korea Republic). Research Management Bureau)

Ключевые слова АГРОВОК
contenido de materia seca dry matter content espectrometria glycine max grain granos leaf area measurement mesure production rendement rendimiento spectrometrie spectrometry statistical methods superficie foliar surface foliaire yields
Библиографическая информация
Том 38 Выпуск 2 ISSN 1225-5394
Нумерация страниц
pp. 316-320
Другие темы
Metodos estadisticos; Methode statistique; Produccion; Medicion; Teneur en matiere seche
Язык
Корейский
Примечание
Summaries (En, Ko)
3 illus.; 2 tables; 13 ref.
Тип
Summary
1997-08-15
AGRIS AP
Поставщик данных

Эту запись предоставил Korea Agricultural Science Digital Library

Откройте коллекцию этого поставщика данных в AGRIS

Посмотрите в Google Scholar
If you notice any incorrect information relating to this record, please contact us at [email protected] [email protected]