FAO AGRIS - Sistema Internacional para la Ciencia y Tecnología Agrícola

Relationship between incident radiation, leaf area and dry-matter yield in wheat

1986

Saini, A.D. | Nanda, R. (Indian Agricultural Research Inst., New Delhi)


Información bibliográfica
Indian Journal of Agricultural Sciences (India)
Volumen 56 Edición 9 ISSN 0019-5022
Paginación
pp. 638-645
Otras materias
Ble; Variete; Radiaciones
Idioma
Inglés
Nota
18 ref. Summary (En)
Tipo
Summary

1987-08-15
AGRIS AP
Proveedor de Datos
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