ФАО АГРИС — международная информационная система по сельскохозяйственным наукам и технологиям

Relationship between incident radiation, leaf area and dry-matter yield in wheat

1986

Saini, A.D. | Nanda, R. (Indian Agricultural Research Inst., New Delhi)


Библиографическая информация
Indian Journal of Agricultural Sciences (India)
Том 56 Выпуск 9 ISSN 0019-5022
Нумерация страниц
pp. 638-645
Другие темы
Ble; Variete; Radiaciones
Язык
Английский
Примечание
18 ref. Summary (En)
Тип
Summary

1987-08-15
AGRIS AP
Посмотрите в Google Scholar
If you notice any incorrect information relating to this record, please contact us at [email protected] [email protected]