FAO AGRIS - Sistema Internacional para la Ciencia y Tecnología Agrícola

Low-cost assessment of grain yield in durum wheat using RGB images

Fernandez-Gallego, Jose A. | Kefauver, Shawn C. | Vatter, Thomas | Aparicio Gutiérrez, Nieves | Nieto-Taladriz, María Teresa | Araus, José Luis


Información bibliográfica
Volumen 105 Paginación 146 - 156 ISSN 1161-0301
Editorial
Elsevier B.V.
Otras materias
Grain yield; Grain yield; Abiotic stresses; Durum wheat; Phenotype; Irrigated conditions; Rgb indices; Low-cost phenotyping; Filling period; Triticum turgidum subsp. durum; Durum wheat
Idioma
Inglés
Tipo
Journal Article; Text

2024-02-28
2026-02-03
MODS
Proveedor de Datos
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