ФАО АГРИС — международная информационная система по сельскохозяйственным наукам и технологиям

Low-cost assessment of grain yield in durum wheat using RGB images

Fernandez-Gallego, Jose A. | Kefauver, Shawn C. | Vatter, Thomas | Aparicio Gutiérrez, Nieves | Nieto-Taladriz, María Teresa | Araus, José Luis


Библиографическая информация
Том 105 Нумерация страниц 146 - 156 ISSN 1161-0301
Издатель
Elsevier B.V.
Другие темы
Grain yield; Grain yield; Abiotic stresses; Durum wheat; Phenotype; Irrigated conditions; Rgb indices; Low-cost phenotyping; Filling period; Triticum turgidum subsp. durum; Durum wheat
Язык
Английский
Тип
Journal Article; Text

2024-02-28
2026-02-03
MODS
Посмотрите в Google Scholar
If you notice any incorrect information relating to this record, please contact us at [email protected] [email protected]