AGRIS - Sistema Internacional para la Ciencia y Tecnología Agrícola

The Effect of Surface Soil Thickness on Corn Yields: I. As Determined by a Series of Field Experiments in Farmer-Operated Fields

1961

Engelstad, O. P. | Shrader, W. D. | Dumenil, L. C.


Información bibliográfica
Soil Science Society of America journal
Volumen 25 Edición 6 Paginación 494 - 497 ISSN 0361-5995
Editorial
American Phytopathological Society
Otras materias
Corn; Soil depth; Fertilizer rates
Idioma
Inglés
Nota
Epub
Tipo
Text; Journal Article

2024-02-29
MODS
Proveedor de Datos
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