AGRIS — международная информационная система по сельскохозяйственным наукам и технологиям

The Effect of Surface Soil Thickness on Corn Yields: I. As Determined by a Series of Field Experiments in Farmer-Operated Fields

1961

Engelstad, O. P. | Shrader, W. D. | Dumenil, L. C.


Библиографическая информация
Soil Science Society of America journal
Том 25 Выпуск 6 Нумерация страниц 494 - 497 ISSN 0361-5995
Издатель
American Phytopathological Society
Другие темы
Corn; Soil depth; Fertilizer rates
Язык
Английский
Примечание
Epub
Тип
Text; Journal Article

2024-02-29
MODS
Посмотрите в Google Scholar
If you notice any incorrect information relating to this record, please contact us at agris@fao.org agris@fao.org