AGRIS - Système international des sciences et technologies agricoles

The Effect of Surface Soil Thickness on Corn Yields: I. As Determined by a Series of Field Experiments in Farmer-Operated Fields

1961

Engelstad, O. P. | Shrader, W. D. | Dumenil, L. C.


Informations bibliographiques
Soil Science Society of America journal
Volume 25 Numéro 6 Pagination 494 - 497 ISSN 0361-5995
Editeur
American Phytopathological Society
D'autres materias
Corn; Soil depth; Fertilizer rates
Langue
anglais
Note
Epub
Type
Text; Journal Article

2024-02-29
MODS
Fournisseur de données
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