Towards direct imaging of defects in carbon nanotubes with 4DSTEM
2024
Louiset Antonin | Förster Daniel | Rouviere Jean-Luc | Jourdain Vincent | Bichara Christophe | Okuno Hanako
Informations bibliographiques
Editeur
EDP Sciences
D'autres materias
Carbon nanotubes; 4dstem; Electron ptychography
Langue
anglais
2024-12-11
2026-01-23
DOAJ
Fournisseur de données
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