Towards direct imaging of defects in carbon nanotubes with 4DSTEM
2024
Louiset Antonin | Förster Daniel | Rouviere Jean-Luc | Jourdain Vincent | Bichara Christophe | Okuno Hanako
Библиографическая информация
Издатель
EDP Sciences
Другие темы
Carbon nanotubes; 4dstem; Electron ptychography
Язык
Английский
2024-12-11
2026-01-23
DOAJ
Поставщик данных
Эту запись предоставил Directory of Open Access Journals
If you notice any incorrect information relating to this record, please contact us at [email protected] [email protected]