FAO AGRIS - Sistema Internacional para la Ciencia y Tecnología Agrícola

Introgression of a 4D chromosomal fragment into durum wheat confers aluminium tolerance

2014

Han, Zhang | Ryan, Peter R. | Yan, ZeHong | Delhaize, Emmanuel


Información bibliográfica
Volumen 114 Edición 1 Paginación 135-144 - 144 ISSN 0305-7364
Editorial
Elsevier B.V.
Otras materias
Plant characteristics; Aluminium tolerance; Rhizosheath; Homozygosity; Root growth; Taalmt1; Fine roots; Durum wheat; 4d chromosomal fragment; Grain yield; Acid soil; Substitution lines; Kna1
Idioma
Inglés
Licencia
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Tipo
Journal Article; Text

2024-02-29
MODS
Proveedor de Datos
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