ФАО АГРИС — международная информационная система по сельскохозяйственным наукам и технологиям

Introgression of a 4D chromosomal fragment into durum wheat confers aluminium tolerance

2014

Han, Zhang | Ryan, Peter R. | Yan, ZeHong | Delhaize, Emmanuel


Библиографическая информация
Том 114 Выпуск 1 Нумерация страниц 135-144 - 144 ISSN 0305-7364
Издатель
Elsevier B.V.
Другие темы
Plant characteristics; Aluminium tolerance; Rhizosheath; Homozygosity; Root growth; Taalmt1; Fine roots; Durum wheat; 4d chromosomal fragment; Grain yield; Acid soil; Substitution lines; Kna1
Язык
Английский
Лицензия
//data.crossref.org/schemas/AccessIndicators.xsd:license_ref>http://purl.org/eprint/accessRights/OpenAccess | //data.crossref.org/schemas/AccessIndicators.xsd:program>//data.crossref.org/schemas/AccessIndicators.xsd:license_ref> | //data.crossref.org/schemas/AccessIndicators.xsd:program>
Тип
Journal Article; Text

2024-02-29
MODS
Посмотрите в Google Scholar
If you notice any incorrect information relating to this record, please contact us at [email protected] [email protected]