ФАО АГРИС — международная информационная система по сельскохозяйственным наукам и технологиям

[Structural determinations by scanning electron microscopy]

1999

Bindrich, U.


Библиографическая информация
Нумерация страниц
pp. 136-138
Другие темы
Rem; Estructura quimica; Elektronen; Patisserie confiserie; Pasteleria-confiteria; Sussware; Backerei; Quantitat; Analisis cuantitativo; Qualite; Composicion aproximada; Evaluacion; Bestimmung; Waffel; Qualitat; Materiel de laboratoire
Язык
Немецкий
Переведенный заголовок
Strukturuntersuchungen mit dem Raster-Elektronenmikroskop
Корпоративный автор/ Групповой автор
Deutsches Inst. fuer Lebensmitteltechnik e.V., Quakenbrueck (Germany)

2000-08-15
AGRIS AP
Посмотрите в Google Scholar
If you notice any incorrect information relating to this record, please contact us at [email protected] [email protected]